ERCOS
Objectif
Il est bien connu que ces ions lourds peuvent changer les valeurs des informations dans des mémoires électroniques au cœur même des satellites et provoquer dans certains cas des pannes.
Cette étude porte sur des composants de type « mémoires à accès aléatoires » (RAM, pour Random Access Memory).
Concept Opérationnel
Bien que protégée par la magnétosphère, l'orbite terrestre se trouve sous l'effet de divers rayonnements composés par :
- des particules légères (protons, électrons) provenant du vent solaire et piégées dans la magnétosphère,
- des ions lourds d'origine cosmique (galactiques et extragalactiques) ainsi que solaires.
L'effet des ions lourds présents dans l'environnement spatial est le facteur le plus dégradant pour les composants électroniques à haut niveau d'intégration : le passage d'un ion lourd dans un circuit intégré peut en modifier l'état ou le détruire. De nombreux satellites ont eu des problèmes importants dont la cause présumée est la destruction d'un composant par le passage d'un ion lourd. C'est pourquoi de très importants travaux de recherche sont réalisés par les laboratoires afin d'évaluer les probabilités d'apparition d'ions lourds dans l'espace et pour étudier des composants plus résistants.
Matériel utilisé
L'expérience ERCOS se présente sous la forme d'un boîtier au fond duquel est placée la carte de détecteurs. Lors de l'installation dans la station, ce fond est disposé contre la paroi, en un lieu où le blindage est minimum et situé, la plupart du temps, à l'opposé de la terre.
